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A robust approach for the direct extraction of HEMT circuit elements vs. bias and temperature 1-gen-2003 A. Caddemi; N. Donato; G. Crupi
A robust approach for the direct extraction of HEMT circuit elements vs. bias and temperature 1-gen-2004 Caddemi, Alina; Donato, Nicola; Crupi, Giovanni
Microwave characterization and modelling of packaged HEMT's by a direct extraction procedure at cryogenic temperatures 1-gen-2004 Donato, Nicola; Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; E., Calandra
Bias and Temperature Dependent Modeling of on Wafer HEMT' s by a Direct and Fast Procedure 1-gen-2004 Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
A robust and fast procedure for the determination of the small signal equivalent circuit of HEMTs 1-gen-2004 Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
Tecniche di caratterizzazione criogenica per componenti di LNA in applicazioni avanzate alle iperfrequenze 1-gen-2005 Caddemi, Alina; F., Catalfamo; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
Tecniche di caratterizzazione criogenica per dispositivi avanzati alle iperfrequenze 1-gen-2005 Caddemi, Alina; F., Catalfamo; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
Temperature and bias investigation of self heating effect and threshold voltage shift in pHEMT's 1-gen-2005 ALVARO M; CADDEMI A.; CRUPI G; DONATO N
On the soft breakdown phenomenon in AlGaAs/InGaAs HEMT: An experimental study down to cryogenic temperature 1-gen-2005 CADDEMI A; CRUPI G; DONATO N.
Impact of the self-generated heat on the scalability of HEMTs 1-gen-2005 Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
Tecniche di caratterizzazione criogenica per componenti di LNA in applicazioni avanzate alle iperfrequenze 1-gen-2006 Caddemi, Alina; Catalfamo, F; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
DC to Microwave Characterization and Modeling of the Cryogenic Performance of Low-Noise HEMT's 1-gen-2006 Caddemi, Alina; Catalfamo, F; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
Microwave characterization and modeling of packaged HEMTs by a direct extraction procedure down to 30 K 1-gen-2006 Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
Scalable and multibias high frequency modeling of multi-fin FETs 1-gen-2006 CRUPI G; SCHREURS D; PARVAIS B; CADDEMI A.; MERCHA A; DECOUTERE S
Temperature effects on DC and small signal RF performance of AlGaAs/GaAs HEMTs 1-gen-2006 Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; Donato, Nicola
Accurate multibias equivalent-circuit extraction for GaNHEMTs 1-gen-2006 Crupi, Giovanni; Xiao, Dp; Schreurs, Dmmp; Limiti, E; Caddemi, Alina; DE RAEDT, W; Germain, M.
Equivalent circuit based non-linear microwave model for FinFET's 1-gen-2007 Crupi, Giovanni; D. M. M. P., Schreurs; I., Angelov; Caddemi, Alina; B., Parvais
Analytical construction of nonlinear lookup table model for advanced microwave transistors 1-gen-2007 Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; D. M. M. P., Schreurs
Determination and validation of new nonlinear FinFET model based on lookup tables 1-gen-2007 Crupi, Giovanni; Schreurs, Dmmp; Xiao, Dp; Caddemi, Alina; Parvais, B; Mercha, A; Decoutere, S.
Implementation of Non-Linear Model Based on Lookup Table Approach 1-gen-2007 Crupi, Giovanni; D. M. M. P., Schreurs
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