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A complete microwave characterization of GaAs HEMTs under optical illumination 1-gen-2013 Caddemi, A.; Crupi, G.; Fazio, E.; Patane, S.; Salvo, G.
A scalable HEMT noise model based on FW-EM analyses 1-gen-2014 Nalli, Andrea; Raffo, Antonio; Vannini, Giorgio; D'Angelo, Sara; Resca, Davide; Scappaviva, Francesco; Crupi, Giovanni; Salvo, Giuseppe; Caddemi, Alina
Light sensitivity of GaAs pHEMT's: A close insight into the microwave noise behavior 1-gen-2014 Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; Salvo, Giuseppe
Black-box noise modeling of GaAs HEMTs under illumination 1-gen-2015 Colangeli, Sergio; Ciccognani, Walter; Limiti, Ernesto; Caddemi, Alina; Crupi, Giovanni; Salvo, Giuseppe
GaN HEMT noise modeling based on 50-Ω noise factor 1-gen-2015 Crupi, Giovanni; Caddemi, Alina; Raffo, Antonio; Salvo, Giuseppe; Nalli, Andrea; Vannini, Giorgio
Performance analysis of a microwave low-noise amplifier under laser illumination 1-gen-2015 Caddemi, Alina; Cardillo, Emanuele; Crupi, Giovanni; Salvo, Giuseppe
GaN HEMT modelling through 50-Ω NF measurements 1-gen-2015 Nalli, Andrea; Raffo, Antonio; Crupi, Giovanni; D'Angelo, Sara; Resca, Davide; Scappaviva, Francesco; Salvo, Giuseppe; Caddemi, Alina; Vannini, Giorgio
Microwave effects of UV light exposure of a GaN HEMT: Measurements and model extraction 1-gen-2016 Caddemi, Alina; Cardillo, Emanuele; Salvo, Giuseppe; Patane', Salvatore
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