Thermal stress and mechanical strain real time mapping in Intelligent Power Switches device2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD)

PANARELLO, SAVERIO;TRIOLO, CLAUDIA;TESTA, Antonio;PATANE', Salvatore;
2014-01-01

2014
9781479929160
9781479929177
9781479929184
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