Automatic measurement system for the DC and low-f noise characterization of FETs at wafer level

GIUSI, Gino;GIORDANO, ORAZIO;SCANDURRA, Graziella;CIOFI, Carmine;
2015

9781479961139
9781479961139
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Caricamento pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11570/3069614
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 17
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 13
social impact