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PANARELLO, Saverio

PANARELLO, Saverio  

Dipartimento di Ingegneria  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Buck-Boost based DC/AC Converter for Residential PV Applications 1-gen-2012 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Scimone, Tommaso; Panarello, Saverio
A New Approach for Impedance Tracking of Piezoelectric Vibration Energy Harvesters Based on a Zeta Converter 1-gen-2020 Quattrocchi, Antonino; Montanini, Roberto; De Caro, Salvatore; Panarello, Saverio; Scimone, Tommaso; Foti, Salvatore; Testa, Antonio
A PZT-based Energy Harvester with Working Point Optimization 1-gen-2017 De Caro, Salvatore; Montanini, Roberto; Panarello, Saverio; Quattrocchi, Antonino; Scimone, Tommaso; Testa, Antonio
An infrared thermal measuring system for automotive 1-gen-2010 Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti
An Infrared Thermal Measuring System for Automotive Applications and Reliability Improvement 1-gen-2011 Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; S., Russo; D., Patti; R., Letor
APPARATO E METODO PER LA GENERAZIONE DI CAMPI ELETTRICI PULSATI AD ALTA INTENSITÀ 1-gen-2020 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Scimone, Tommaso; Bonfà, Francesca
Comparative reliability assessment of Planar and Trench Gate Power MOSFETs for Automotive Applications 1-gen-2010 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; S., Poma; D., Patti
FMEA and lifetime estimation of power MOSFETs for ABS systems 1-gen-2009 DE CARO, Salvatore; Testa, Antonio; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti
Improving ICs reliability with high speed thermal mapping 1-gen-2018 Panarello, S.; Triolo, C.; Garescì, F.; Patanè, S.; Denaro, R.
Improving ICs reliability with high speed thermal mapping 1-gen-2017 Panarello, Saverio; Triolo, Claudia; Garesci', Francesca; Patane', Salvatore; Billè, G.; Patti, D.; Burian, L.; Gazzo, D.; Petényi, S.
Lifetime estimation of Super-junction Power MOSFETs under short circuit and repeated avalanche operations 1-gen-2010 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti
Reliability Assessment of Avalanche Mode Operating Power MOSFETs through Coffin Manson Law based Mathematical Models 1-gen-2014 G. Cannata;S. De Caro;S. Panarello;T. Scimone;A. Testa;S. Russo
Reliability assessment of Low-Voltage MOSFETs driving inductive loads 1-gen-2010 Testa; S. De Caro; S. Panarello ; S. Patane’; R. Letor; S. Russo; S. Poma; D. Patti ;
Reliability Assessment of Power MOSFETs Working in Avalanche Mode Based on a Thermal Strain Direct Measurement Approach 1-gen-2014 S. Russo; A. Testa; S. De Caro; S. Panarello; S. Patane'; T. Scimone; G. Scelba; G. Scarcella
Reliability Assessment of Power MOSFETs Working in Avalanche Mode Based on a Thermal Strain Direct Measurement Approach 1-gen-2016 Russo, Sebastiano; Testa, Antonio; De Caro, Salvatore; Scimone, Tommaso; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Scelba, Giacomo; Scarcella, Giuseppe
Reliability Assessment on Power MOSFETs Working in Energy Absorption Mode 1-gen-2010 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Patane', Salvatore; Panarello, Saverio; S., Russo; D., Patti; S., Poma
Reliability model application for power devices using mechanical strain real time mapping 1-gen-2016 Panarello, Saverio; Garesci', Francesca; Triolo, Claudia; Patane', Salvatore; Patti, D.; Russo, S.
Reliability of planar, Super-Junction and trench low voltage power MOSFETs 1-gen-2010 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Russo, S; Patti, D; Poma, S; Letor, R.
Stress analysis and lifetime estimation on Power MOSFETs for automotive ABS systems 1-gen-2009 DE CARO, Salvatore; Testa, Antonio; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti; S., Poma
Stress Analysis and Lifetime Estimation on Power MOSFETs for Automotive ABS Systems 1-gen-2008 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Letor, R; Russo, S; Poma, S; Patti, D.