MAZZA, BRUNA

MAZZA, BRUNA  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Defects and traps electrical characterization in 4H-SiC PowerMOSFET 26-nov-2021 Mazza, Bruna
Effect of interface and bulk charges on the breakdown of nitrided gate oxide on 4H-SiC 1-gen-2021 Mazza, B.; Patane, S.; Cordiano, F.; Giliberto, M.; Renna, G.; Severino, A.; Zanetti, E.; Boscaglia, M.; Franco, G.
Electrical overstress effect characterization on Power MOS Trenchfet and correlation with time dependent dielectric breakdown 1-gen-2021 Mazza, B.; Patane, S.; Cordiano, F.; Giliberto, M.; Barletta, G.; Franco, G.
High speed thermal mapping on six-pack SiC-based module for hybrid and electric vehicles 1-gen-2022 Malta, G.; Anoldo, L.; Mazza, B.; Piccione, G. G.; Russo, A.; Calabretta, M.; Russo, S.; Sitta, A.; Messina, A.; Lionetto, A.; Patane, S.
Multchip SiC-based compact module for automotive applications: A high speed thermal study 1-gen-2022 Anoldo, L.; Malta, G.; Mazza, B.; Piccione, G. G.; Calabretta, M.; Russo, S.; Russo, A.; Sitta, A.; Messina, A.; Lionetto, A.; Patane, S.