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EnglishCharacterization techniques for temperature-dependent experimental analysis of microwave transistors / CADDEMI A.; DONATO N.; SANNINO M.. - (2001), pp. 1893-1896. ((Intervento presentato al convegno IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference tenutosi a Budapest, Hungary nel 21-23 May 2001.
| Titolo: | Characterization techniques for temperature-dependent experimental analysis of microwave transistors |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2001 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11570/1582506 |
| ISBN: | 0780366468 |
| Appare nelle tipologie: | 14.d.3 Contributi in extenso in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11570/1582506
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