Low-noise device and circuit characterization at cryogenic temperatures for high sensitivity microwave receivers

Caddemi, A.; Donato, N.; Sannino, M.

doi:10.1109/EDMO.2000.919036

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Low-noise device and circuit characterization at cryogenic temperatures for high sensitivity microwave receivers / CADDEMI A.; DONATO N.; SANNINO M.. - (2000), pp. 89-94. ((Intervento presentato al convegno 8th IEEE Int. Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoel. Appl. tenutosi a Glasgow, United Kingdom nel Nov. 2000.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11570/1582509

Titolo:	Low-noise device and circuit characterization at cryogenic temperatures for high sensitivity microwave receivers
Autori interni:	CADDEMI, Alina DONATO, Nicola
Data di pubblicazione:	2000
Handle:	http://hdl.handle.net/11570/1582509
ISBN:	078036550X
Appare nelle tipologie:	14.d.3 Contributi in extenso in Atti di convegno

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