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EnglishOverview of noise measurement strategies for the characterization of active devices at microwave frequencies / CADDEMI A.; SANNINO M.. - (1999), pp. 143C-146C. ((Intervento presentato al convegno 7th IEEE Int. Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoel. Appl. tenutosi a London, United Kingdom nel 22-23 November 1999.
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http://hdl.handle.net/11570/1582510| Titolo: | Overview of noise measurement strategies for the characterization of active devices at microwave frequencies |
| Autori interni: | CADDEMI, Alina |
| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11570/1582510 |
| ISBN: | 9780780352988 |
| Appare nelle tipologie: | 14.d.3 Contributi in extenso in Atti di convegno |
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