Observation of hot-carrier-induced nFET gate-oxide breakdown in dynamically stressed CMOS circuits / KACZER B.; CRUPI F.; DEGRAEVE R.; ROUSSEL P.; CIOFI C.; GROESENEKEN G.. - STAMPA. - (2002), pp. 171-174. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting tenutosi a SAN FRANCISCO nel DEC 08-11.
Titolo: | Observation of hot-carrier-induced nFET gate-oxide breakdown in dynamically stressed CMOS circuits |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2002 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11570/1582565 |
ISBN: | 0-7803-7462-2 |
Appare nelle tipologie: | 14.d.3 Contributi in extenso in Atti di convegno |
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