Gate bias system for OTFT electrical characterisation and low-frequency noise measurements
CIOFI, Carmine;SCANDURRA, Graziella;GIUSI, Gino
2017-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.