On the design of an automated system for the characterization of the electromigration performance of advanced interconnects by means of low-frequency noise measurements / Scandurra, G.; Beyne, S.; Giusi, G.; Ciofi, C.. - In: METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS. - ISSN 2080-9050. - 26:1(2019), pp. 13-21.
Titolo: | On the design of an automated system for the characterization of the electromigration performance of advanced interconnects by means of low-frequency noise measurements |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2019 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11570/3144046 |
Appare nelle tipologie: | 14.a.1 Articolo su rivista |
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