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On the noise resistance of HEMT's for improving the performance of microwave low-noise amplifiers 1-gen-1997 Caddemi, Alina; Sannino, M.
Determination of HEMTs noise parameters vs. temperature using two measurement methods 1-gen-1997 Caddemi, Alina; Di Paola, A.; Sannino, M.
Dependence of the noise resistance of microwave FET's from the device characteristics 1-gen-1997 Caddemi, Alina; Di Prima, F.; Sannino, M.
On the influence of polysilicon layer resistance upon the noise performance of microwave BJTs 1-gen-1997 Caddemi, Alina; Sannino, M.; Mazzara, S.
Full characterization of microwave low-noise HEMTs: Measurement vs. Modeling 1-gen-1997 Caddemi, Alina; DI PAOLA, A.; Sannino, M.
Influence of the temperature on the equivalent noise resistance of HEMT's at microwave frequencies 1-gen-1997 Di Prima, F.; Caddemi, Alina; Sannino, M.
The role of modeling in the microwave characterization of low-noise active devices 1-gen-1998 Caddemi, Alina; Sannino, M.
Bias-dependence of the noise performance in Si/SiGe HBTs at microwave frequencies 1-gen-1998 Caddemi, Alina; Patti, F.; Sannino, M.
Influence of the temperature on the equivalent noise resistance of HEMTs at microwave frequencies 1-gen-1998 Caddemi, Alina; DI PRIMA, F.; Sannino, M.
Determination of HEMT's noise parameters vs. temperature using two measurement methods 1-gen-1998 CADDEMI A.; DI PAOLA A.; SANNINO M.
Analysis of the 50 Ω - noise mismatch in microwave low-noise transistors 1-gen-1998 Caddemi, Alina; Di Prima, S.; Sannino, M.
Fast and efficient procedures for determining the microwave noise parameters of HEMT's at decreasing temperatures 1-gen-1998 Caddemi, Alina; DI PAOLA, A.; Sannino, M.
Overview of noise measurement strategies for the characterization of active devices at microwave frequencies 1-gen-1999 Caddemi, Alina; Sannino, M.
Sensori di umidità a base di film sottili di ossidi metallici drogati: caratterizzazione elettrica 1-gen-2000 Neri, Giovanni; Bonavita, Anna; Galvagno, Signorino; C., Pace; Donato, Nicola; Caddemi, Alina
Sensori di umidità a base di film sottili di ossidi metallici drogati: Caratterizzazione elettrica dei dispositivi 1-gen-2000 Neri, Giovanni; Bonavita, Anna; Galvagno, Signorino; C., Pace; Caddemi, Alina; Donato, Nicola
Caratterizzazione di transistori on wafer a basso rumore per microonde 1-gen-2000 Caddemi, Alina; Donato, Nicola; M., Sannino
Low-noise device and circuit characterization at cryogenic temperatures for high sensitivity microwave receivers 1-gen-2000 Caddemi, Alina; Donato, Nicola; Sannino, M.
A global approach to the noise and small-signal characterization of microwave field-effect transistors 1-gen-2001 Caddemi, Alina; Martines, G.
On-wafer thermal investigation of GaAs-based microwave transistors by a thermoelectric system 1-gen-2001 Caddemi, Alina; Donato, Nicola; Sannino, M.
Caratterizzazione e modeling di sensori di umidità a base di film sottili di ZnO-Fe2O3 1-gen-2001 Bonavita, Anna; P., Accordino; A., Dasaro; Donato, Nicola; Caddemi, Alina; C., Pace; Neri, Giovanni; Galvagno, Signorino
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